課程名稱:【半導體檢測技術】
當學期所開設課程
課號 | 班次 | 課名 | 學分數 | 全半年 | 授課教師 | 時間(教室) |
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ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (機械116) | |
ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (機械116) |
往年所開設課程
開課年度 | 課號 | 班次 | 課名 | 學分數 | 全半年 | 授課教師 | 時間(教室) |
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112-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
112-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
111-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
111-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
110-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
110-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
109-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) | |
109-2 | ME5051 | 半導體檢測技術 | 3.0 | 2 | 傅尉恩 | 四ABC (工綜205) |