課程名稱:【積體電路測試】
當學期所開設課程
課號 | 班次 | 課名 | 學分數 | 全半年 | 授課教師 | 時間(教室) |
---|---|---|---|---|---|---|
EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (綜401) | |
EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (綜401) | |
EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (綜401) | |
EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (綜401) |
往年所開設課程
開課年度 | 課號 | 班次 | 課名 | 學分數 | 全半年 | 授課教師 | 時間(教室) |
---|---|---|---|---|---|---|---|
99-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
99-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
99-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
99-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
99-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
99-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
98-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
98-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
98-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
98-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
98-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
98-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
97-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
97-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
97-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
97-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
97-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
97-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
96-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
96-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
96-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
96-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
96-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
96-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二229) | |
95-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 | |
95-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 | |
95-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 | |
95-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 | |
94-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
94-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
94-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
94-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
93-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
93-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
93-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
93-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 | |
111-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (共103) | |
111-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (共103) | |
111-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (共103) | |
109-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 三234 (綜401) | |
109-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 三234 (綜401) | |
109-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 三234 (綜401) | |
109-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 三234 (綜401) | |
108-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
108-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
108-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
108-2 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
107-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
107-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
107-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
107-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
106-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
106-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
106-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
106-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3.0 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
105-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
105-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
105-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
105-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
104-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
104-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
104-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
104-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二146) | |
103-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
103-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
103-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
103-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
102-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
102-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
102-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
102-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 二234 (電二143) | |
101-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
101-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
101-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
101-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
100-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
100-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
100-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) | |
100-1 | EEE5001 | 積體電路測試 | 3 | 2 | 李建模 | 三234 (電二225) |